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汽车电子功能测试的挑战及解决方案

  2016年8月30日下午,由OFweek中国高科技行业门户及NEPCON联袂主办的“OFweek 2016中国核心电子技术研讨会巡回活动(深圳站)”在深圳会展中心5楼牡丹厅隆重举办。是德科技应用工程师眭宾发表了题为“汽车电子功能测试的挑战及解决方案”的演讲。

  眭宾表示:“在当今的汽车上面,电子设备无处不在。与八十年代相比,电子器件在汽车上所占的比例,已经从10%增加到35%。到2030年,随着HEV&EV的普及,汽车电子部件的比例将达到50%。随着功能的日渐增多,汽车对ECU部件的需求和要求也会更多。”

  对于汽车零部件供应商而言,在为整车厂提供零部件的时候,除了注重质量之外,还要考虑效率。在配合整车厂完成对电子零部件的功能测试时,会面临很多的困难和挑战。在演讲中眭宾向大家介绍了汽车电子测试的三个难题:大电流开关、用于电压和电流模拟的多种仪器、自主开发软件。如果没有专业的团队和整套的测试方案,需要去找专业人士设计测试方案、搭建测试平台,这样会延长产品的开发周期,提高产品的开发成本。

  如何快速的配合整车完成汽车电子功能测试呢?眭宾同现场观众分享了是德科技的测试参考解决方案:为厂商提供了一个PXI架构的测试平台,该平台集成了全新设计的模块化开关和负载解决方案,以支持高电压和大电流开关切换和负载仿真。而且,它还配有适用于该解决方案的测试序列开发软件和硬件控制程序库,能够显著缩短设计、集成和部署功能测试解决方案所需要的时间,让应用变得更简单。

  最后,眭宾总结道:“对于汽车零部件供应商而言,如何快速效率配合整车厂缩短开发周期是他们的追求;而对于我们专业功能测试而言,如何更简单更有效率的完成测试,提高覆盖率才是我们的追求。”

  更多现场报道,视频及演讲资料下载敬请查看专题《OFweek 2016中国新能源汽车核心电子技术研讨会(深圳站)》。

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